本發(fā)明是關(guān)于一種基于太赫茲時(shí)域光譜測(cè)定巖石光學(xué)參數(shù)的方法及系統(tǒng),所述的方法包括:對(duì)巖石基底和巖石樣品進(jìn)行檢測(cè),獲取所述的巖石基底的太赫茲脈沖時(shí)域波形和所述的巖石樣品的太赫茲脈沖時(shí)域波形;對(duì)所述的巖石基底的太赫茲脈沖時(shí)域波形和所述的巖石樣品的太赫茲脈沖時(shí)域波形進(jìn)行處理,得到所述的巖石樣品的吸收譜和折射率譜數(shù)據(jù)。本發(fā)明提供的一種基于太赫茲時(shí)域光譜測(cè)定巖石光學(xué)參數(shù)的方法及系統(tǒng),能夠?qū)r石進(jìn)行快速、無(wú)損檢測(cè),檢測(cè)方法易操作,數(shù)據(jù)處理簡(jiǎn)單,重復(fù)性好。
聲明:
“基于太赫茲時(shí)域光譜測(cè)定巖石光學(xué)參數(shù)的方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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