本發(fā)明公開一種無需參考樣本的熱障涂層陶瓷層太赫茲測厚方法，將太赫茲時域光譜系統(tǒng)發(fā)射的太赫茲波垂直入射熱障涂層，垂直入射的太赫茲波在陶瓷層內多次反射，獲取前三次回波信號的振幅；根據計算前三次回波信號的平均振幅，得到振幅強度，根據振幅強度，計算陶瓷層的折射率；根據陶瓷層的折射率，計算陶瓷層的厚度。本發(fā)明提出的方法使用太赫茲時域信號，在無需參考樣本的前提下便能夠實現熱障涂層陶瓷層厚度的非接觸、高效、無損檢測。