公開了一種揚(yáng)聲器T/S參數(shù)測試裝置,通過設(shè)置具有容置空腔的密封測試裝置,將揚(yáng)聲器單體放置于容置空腔內(nèi),揚(yáng)聲器單體與測試裝置的容置空腔分別形成背腔和前腔,分別測試密封前揚(yáng)聲器單體的電聲參數(shù)組和密封后揚(yáng)聲器單體的阻抗曲線,提取電聲參數(shù)組和密封后揚(yáng)聲器的阻抗曲線的特征參數(shù)并根據(jù)聲學(xué)系統(tǒng)設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)公式計算獲取揚(yáng)聲器單體的T/S參數(shù)。本申請的揚(yáng)聲器T/S參數(shù)測試裝置可以實(shí)現(xiàn)在揚(yáng)聲器單體無損情況下,快速對揚(yáng)聲器單體進(jìn)行在線測試獲取T/S參數(shù),縮短了測試時間,提高了效率。
聲明:
“揚(yáng)聲器T/S參數(shù)測試裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)