本發(fā)明提供了一種測(cè)量涂層孔隙率模型的建立方法及該模型的使用方法，其中測(cè)量涂層孔隙率模型根據(jù)SEM照片原位建模原理構(gòu)建，較其他方法更接近涂層中孔隙的實(shí)際形貌，孔隙率不同的模型孔隙形貌基本保持一致，且遵循了控制單一變量的原則，使得孔隙率僅隨縱波聲速變化，研究結(jié)果更具針對(duì)性、嚴(yán)密性和說服力。測(cè)量涂層孔隙率模型的使用方法為通過對(duì)涂層的超聲反射回波信號(hào)幅度譜進(jìn)行分析，得到不同孔隙率下的涂層縱波聲速變化率，進(jìn)而根據(jù)關(guān)系模型，確定涂層的孔隙率。本發(fā)明測(cè)量過程對(duì)涂層無損，且測(cè)量誤差小。