本發(fā)明提供了一種菲涅爾雙棱鏡厚度的非接觸間接測量方法,包括:采用通過測量菲涅爾雙棱鏡的楔角,通過最小偏向角法和折射定律法測量了菲涅爾雙棱鏡的折射率;使用統(tǒng)計學(xué)方法,非接觸地測量菲涅爾雙棱鏡的厚度。在測量鈉黃光波長的實驗背景下,通過不斷改變雙棱鏡的位置,記錄不同位置下的條紋間距,仿真模擬出位置與條紋間距的線性關(guān)系,并以此計算菲涅爾雙棱鏡的厚度。利用本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)在無損的要求下測量易損光學(xué)透鏡厚度的測量。
聲明:
“菲涅爾雙棱鏡厚度的非接觸間接測量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)