本發(fā)明公開了一種用于石英晶體振蕩器芯片的性能評價測試裝置及方法。該測試裝置包括測試設備、晶體諧振器以及測試座，其中，測試座上設置有第一連接接頭、第二連接接頭以及多個測試觸點，多個測試觸點用于與待測芯片的多個管腳接頭一一對應地接觸，且多個測試觸點中的一部分與第一連接接頭電連接，第一連接接頭用于與測試設備電連接，多個測試觸點中的另一部分與第二連接接頭連接，第二連接接頭用于與晶體諧振器連接。本發(fā)明可以解決現(xiàn)有測試方法只能測試固定頻率和一種型號的芯片的問題，其具有測試無損傷、產(chǎn)品適配性好、應用范圍廣、測試精度及測試效率高等特點和優(yōu)勢。