本發(fā)明提供的一種鐵電晶體單軸壓下壓電系數(shù)的測量裝置及方法,包括用于安裝待測樣品的夾具、用于獲取設(shè)定電壓下的待測樣品位移量的數(shù)據(jù)采集單元、用于向待測樣品提供直流電壓的外電場單元,以及分別與數(shù)據(jù)采集單元和外電場單元連接的控制系統(tǒng);本系統(tǒng)能夠避免現(xiàn)有方法中涉及的單軸壓力與低頻交變力的疊加的問題,同時,能夠無損失的傳遞位移,保證了測試精度。
聲明:
“鐵電晶體單軸壓下壓電系數(shù)的測量裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)