一種測(cè)試激光倍頻晶體性質(zhì)的裝置,該裝置包括依次設(shè)置的激光光源、入射激光光路、載物臺(tái)、二次諧波激光光路、針孔、入射光濾色片和光電倍增管。測(cè)試時(shí),利用激光倍頻晶體具有對(duì)入射激光進(jìn)行倍頻的性質(zhì),采用激光對(duì)激光倍頻晶體進(jìn)行照射,產(chǎn)生入射激光的二次諧波,用光電倍增管對(duì)出射的二次諧波進(jìn)行接收,得到二次諧波的光強(qiáng)度,用該裝置對(duì)激光倍頻晶體不同區(qū)域進(jìn)行照射,得到不同區(qū)域的二次諧波強(qiáng)度,通過(guò)分析不同區(qū)域產(chǎn)生二次諧波的強(qiáng)度,可對(duì)激光倍頻晶體的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)進(jìn)行判斷,無(wú)須對(duì)晶體進(jìn)行破壞,就能分析出其內(nèi)部結(jié)構(gòu),實(shí)現(xiàn)了對(duì)激光倍頻晶體質(zhì)量的無(wú)損探測(cè)。
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“測(cè)試激光倍頻晶體性質(zhì)的裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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