本實(shí)用新型提供一種用于片式元器件電壓溫度特性測試的夾具,片式元器件具有兩端電極,夾具包括上蓋板、下蓋板、上電極頂針、下電極頂針、上電極引線、下電極引線,上蓋板可拆卸地蓋緊在下蓋板上,上電極頂針下端可向上收縮地設(shè)置在上蓋板上,下電極頂針固定設(shè)置在下蓋板上,上、下電極頂針上下相對布置,上、下電極引線分別與上電極頂針下端、下電極頂針上端連接,下電極頂針頂部與下蓋板之間形成有放置片式元器件的凹槽,上蓋板蓋在下蓋板上后,片式元器件的兩端電極分別與上、下電極頂針接觸。本實(shí)用新型對片式元器件無損傷,操作簡單,測試效率高,可重復(fù)使用,且通用性強(qiáng)。
聲明:
“用于片式元器件電壓溫度特性測試的夾具” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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