本發(fā)明涉及一種聚乙烯及非金屬材質X射線無損檢測領域用X射線密度像質計,包括密度像質計型號標記區(qū)、密度像質計標識塊、密度像質計識別區(qū);密度像質計型號標記區(qū)設置于密度像質計標識塊上,密度像質計型號標記區(qū)上標記有密度像質計型號、標準號,密度像質計標識塊固定于密度像質計識別區(qū),密度像質計識別區(qū)是由多種階梯狀且密度不同的聚乙烯材質及非金屬材質連接構成。本發(fā)明拓展了X射線檢測領域的檢測范圍,將傳統(tǒng)上X射線無損檢測只能檢測金屬材質發(fā)展到聚乙烯及非金屬材質的X射線無損檢測領域,填補了X射線無損檢測對聚乙烯及非金屬材質領域X射線密度檢測法的空白。
聲明:
“X射線密度像質計” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)