本發(fā)明涉及一種掃描磁探針顯微鏡，包括：低溫杜瓦設(shè)置在基準平臺的凹槽內(nèi)，用于儲存液氮以降低其內(nèi)部的樣品的溫度；樣品調(diào)平裝置設(shè)置在低溫杜瓦內(nèi)，用于在樣本放入時調(diào)節(jié)樣品的高度以使該樣本與基準平臺保持平行狀態(tài)；二維掃描平臺設(shè)置在基準平臺的上表面，用于調(diào)節(jié)磁探針裝置的位置以使磁探針裝置處于不同的檢測位置；勵磁磁體設(shè)置在樣本調(diào)平裝置的上方，且內(nèi)部用于放置樣本，用于為樣本提供外部磁場；磁探針裝置固定所述二維掃描平臺上，并且懸于樣品調(diào)平裝置的正上方；計算模塊與磁探針裝置相連接，用于根據(jù)磁探針裝置所檢測出的磁場空間分布信息計算樣品的電流密度。本發(fā)明可以無損連續(xù)檢測超導(dǎo)帶材的臨界電流密度。