本發(fā)明公開了一種基于等效電容的DBC基板界面裂紋發(fā)展?fàn)顟B(tài)評(píng)估方法，包括：獲取待評(píng)估DBC基板的等效電容；根據(jù)待評(píng)估DBC基板的等效電容計(jì)算該待評(píng)估DBC基板的等效電容百分?jǐn)?shù)；根據(jù)待評(píng)估DBC基板的等效電容百分?jǐn)?shù)和已獲得的DBC基板的等效電容臨界百分?jǐn)?shù)判斷待評(píng)估DBC基板的裂紋發(fā)展階段；當(dāng)待評(píng)估DBC基板的等效電容百分?jǐn)?shù)大于所述等效電容臨界百分?jǐn)?shù)時(shí)，表明待評(píng)估DBC基板銅?陶瓷界面處的裂紋發(fā)展處于裂紋引發(fā)階段；當(dāng)待評(píng)估DBC基板的等效電容百分?jǐn)?shù)等于或小于所述等效電容臨界百分?jǐn)?shù)時(shí)，表明待評(píng)估DBC基板銅?陶瓷界面處的裂紋發(fā)展處于裂紋擴(kuò)展階段。本發(fā)明是一種準(zhǔn)確、簡(jiǎn)單、無(wú)損的測(cè)試方法，為DBC基板界面裂紋發(fā)展?fàn)顟B(tài)的評(píng)估提供了新的選擇。