本發(fā)明公開(kāi)了一種晶振時(shí)鐘失效檢測(cè)方法，包括以下步驟：時(shí)鐘整形模塊將外部晶振所產(chǎn)生的晶振時(shí)鐘由正弦波整形成方波；晶振頻率偵測(cè)模塊檢測(cè)晶振時(shí)鐘的頻率是否在預(yù)設(shè)范圍內(nèi)，若不在預(yù)設(shè)范圍內(nèi)，則產(chǎn)生異常信號(hào)；接收到異常信號(hào)后，時(shí)鐘安全管理模塊將芯片系統(tǒng)的工作時(shí)鐘由晶振時(shí)鐘切換成內(nèi)部RC時(shí)鐘。根據(jù)本發(fā)明的晶振時(shí)鐘失效檢測(cè)方法，能夠快速準(zhǔn)確地檢測(cè)到外部晶振是否停止振蕩，且能夠檢測(cè)晶振時(shí)鐘的頻率是否過(guò)快或者過(guò)慢，并在檢測(cè)到晶振時(shí)鐘異常時(shí)，及時(shí)將芯片系統(tǒng)的工作時(shí)鐘切換成內(nèi)部RC時(shí)鐘，避免芯片系統(tǒng)運(yùn)行紊亂。