本申請(qǐng)公開(kāi)了一種E/E/PE失效率的統(tǒng)計(jì)裝置,屬于功能安全分析領(lǐng)域,該裝置包括:狀態(tài)轉(zhuǎn)移模塊,用于生成集成電路的狀態(tài)轉(zhuǎn)移動(dòng)態(tài)圖,并確定該電路進(jìn)入各個(gè)狀態(tài)的次數(shù)在各自設(shè)定總數(shù)中的占比變量;時(shí)間標(biāo)記模塊,用于根據(jù)預(yù)設(shè)條件和狀態(tài)轉(zhuǎn)移模塊的輸出信號(hào)向邏輯計(jì)算模塊發(fā)送觸發(fā)信號(hào);邏輯計(jì)算模塊,用于根據(jù)觸發(fā)信號(hào)和占比變量確定集成電路的平均失效率以及瞬時(shí)失效率。因?yàn)樵撗b置無(wú)需對(duì)集成電路各個(gè)運(yùn)行狀態(tài)的狀態(tài)轉(zhuǎn)移關(guān)系創(chuàng)建復(fù)雜的狀態(tài)轉(zhuǎn)移矩陣,也無(wú)需采用復(fù)雜的故障樹(shù)公式法進(jìn)行計(jì)算,只是通過(guò)簡(jiǎn)單的邏輯計(jì)算就可以確定出集成電路的平均失效率和瞬時(shí)失效率,這樣就可以使得集成電路的平均失效率和瞬時(shí)失效率的計(jì)算過(guò)程更加簡(jiǎn)單與準(zhǔn)確。
聲明:
“E/E/PE失效率的統(tǒng)計(jì)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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