本發(fā)明涉及一種音頻芯片失效的自恢復(fù)方法,包括步驟:對(duì)音頻芯片進(jìn)行上電復(fù)位檢測(cè);若音頻芯片發(fā)生上電復(fù)位,則對(duì)音頻芯片進(jìn)行自恢復(fù),否則繼續(xù)進(jìn)行上電復(fù)位檢測(cè)。本發(fā)明音頻芯片失效的自恢復(fù)方法利用在上電復(fù)位后會(huì)恢復(fù)默認(rèn)值的寄存器的特性對(duì)音頻芯片進(jìn)行上電復(fù)位檢測(cè),從而能夠準(zhǔn)確地判斷音頻芯片是否處于正常工作狀態(tài);在檢測(cè)到音頻芯片受到外圍供電影響而無(wú)法正常工作時(shí),能夠在不影響其他電子模塊的情況下對(duì)音頻模塊進(jìn)行自恢復(fù),使音頻芯片恢復(fù)正常工作。
聲明:
“音頻芯片失效的自恢復(fù)方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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