本發(fā)明公開了一種比特失效模式統(tǒng)計方法及裝置，將獲取的待處理存儲器芯片單元的比特失效的原始數(shù)據(jù)利用Perl腳本進(jìn)行分析和計算，不僅極大的降低了生產(chǎn)成本，又能夠快速的統(tǒng)計出每批產(chǎn)品的比特失效模式結(jié)果，從而直觀的展現(xiàn)出何種比特失效模式對產(chǎn)品的良率有著較大的影響，也就能夠直指工藝缺陷，有利于有目的的改善制造工藝。