本實(shí)用新型公開(kāi)了一種用于檢測(cè)壓敏電阻的電容量的檢測(cè)電路，包括單片機(jī)、檢測(cè)模塊和校準(zhǔn)模塊，所述單片機(jī)同時(shí)連接所述檢測(cè)模塊和所述校準(zhǔn)模塊，所述單片機(jī)產(chǎn)生方波通過(guò)所述檢測(cè)模塊檢測(cè)MOV的容抗，同時(shí)所述單片機(jī)還產(chǎn)生方波通過(guò)所述校準(zhǔn)模塊得到所述MOV的電容量校準(zhǔn)系數(shù)。本實(shí)用新型通過(guò)所述檢測(cè)模塊檢測(cè)出MOV的容抗，再計(jì)算出MOV的電容量，從而進(jìn)一步判斷SPD是否失效，同時(shí)通過(guò)所述校準(zhǔn)模塊實(shí)現(xiàn)自校準(zhǔn)，保證了檢測(cè)出的MOV的電容值的精度。