本發(fā)明涉及一種基于光電聯(lián)合檢測技術(shù)的電磁繼電器壽命評估方法,包括搭建繼電器控制電路獲取被測繼電器理論動作次數(shù)和提供繼電器動作激勵信號,搭建觸點(diǎn)檢測電路獲取繼電器有效閉合次數(shù),搭建振動檢測光路,使用光纖光柵應(yīng)變傳感器監(jiān)測繼電器動作時的微小振動變化判斷繼電器實(shí)際動作次數(shù),綜合各參數(shù)對繼電器完成壽命評估及壽命影響因素推測。本發(fā)明解決了單一接觸電阻參數(shù)判斷繼電器失效的方法中存在的弊端,通過振動檢測系統(tǒng)和觸點(diǎn)檢測電路對繼電器的動作情況和觸點(diǎn)的有效閉合情況進(jìn)行同時監(jiān)測,在準(zhǔn)確評估繼電器壽命的同時,可判斷影響繼電器壽命的失效因素。
聲明:
“基于光電聯(lián)合檢測技術(shù)的電磁繼電器壽命評估方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)