本申請?zhí)峁┮环N光耦繼電器壽命的檢測方法、裝置、終端設(shè)備及存儲介質(zhì)，其中，光耦繼電器壽命的檢測方法包括步驟：確定待測光耦繼電器的初始參數(shù)；在一定的溫度和濕度條件下對待測光耦繼電器進行加電偏置試驗，過程參數(shù)并在試驗過程中監(jiān)測光耦繼電器開啟電壓的退化情況；測試待測光耦繼電器在加電偏置結(jié)束時的開啟電壓，并作為試驗后的參數(shù)；根據(jù)初始參數(shù)、過程參數(shù)和試驗后的參數(shù)構(gòu)建退化模型；根據(jù)退化模型、初始參數(shù)計算待測光耦繼電器退化至失效所需的時間。本申請能夠?qū)崿F(xiàn)便于檢測光耦繼電器壽命。