本發(fā)明屬于電機(jī)驅(qū)動控制技術(shù)領(lǐng)域,提供了一種電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測方法及系統(tǒng)。該方法及系統(tǒng)是在一次PWM中斷的時間內(nèi)將待測內(nèi)核寄存器的存儲內(nèi)容進(jìn)行備份后,利用存儲器測試算法對每一類待測的內(nèi)核寄存器進(jìn)行斷路故障檢測,以判斷相應(yīng)的內(nèi)核寄存器是否失效,從而能及時發(fā)現(xiàn)內(nèi)核寄存器的故障情況并對電機(jī)采取保護(hù),提高了電機(jī)控制系統(tǒng)運(yùn)行的可靠性。
聲明:
“電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器的內(nèi)核寄存器故障檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)