本發(fā)明提供一種基于自動測試設(shè)備的MARM存儲器的測試方法，所述測試方法包括：步驟S1，將自動測試設(shè)備與MARM 存儲器電連接；步驟S2，對MRAM存儲器進(jìn)行全芯片存儲單元讀寫功能驗證；步驟S3，根據(jù)MARM存儲器工作參數(shù)設(shè)定要求，對MARM存儲器進(jìn)行直流參數(shù)驗證和交流參數(shù)驗證。本發(fā)明提供的方法利用自動測試設(shè)備針對MARM存儲器進(jìn)行測試，能夠發(fā)現(xiàn)MARM存儲器的故障，所述測試方法能夠檢測MARM存在的各種可能的失效模式，包括：全芯片存儲單元讀寫功能驗證；直流參數(shù)驗證和交流參數(shù)驗證。