本發(fā)明公開了一種太陽電池局部電壓電流性能測試與驗(yàn)證方法,具體為選擇一片微缺陷太陽電池封裝成組件樣品,測試樣品在兩個(gè)正向偏壓下的暗鎖相熱成像圖像,對圖像進(jìn)行灰度分析,計(jì)算局部暗飽和電流密度和理想因子;建立利用電致發(fā)光方法確定電池局部電壓的計(jì)算模型;進(jìn)而計(jì)算局部串聯(lián)電阻和并聯(lián)電阻;再利用局部串聯(lián)電阻、理想因子、暗飽和電流、并聯(lián)電阻,采用光束誘導(dǎo)電流法獲得局部短路電流,結(jié)合電池單二極管等效電路模型,求解局部IV曲線。設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn),比較分析直接測試的電池局部IV性能與計(jì)算獲得的IV性能,對計(jì)算模型進(jìn)行驗(yàn)證與修訂。本發(fā)明能夠?qū)栴}電池進(jìn)行分類與篩選,分析缺陷引起的衰減與失效機(jī)理,減少光伏組件失效情況。
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“太陽電池局部電壓電流性能測試與驗(yàn)證方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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