本發(fā)明公開了一種微控制器SOC內(nèi)建IO映射測試裝置，包括外部測試邏輯模塊、微控制器內(nèi)核、知識產(chǎn)權(quán)模塊IP1、知識產(chǎn)權(quán)模塊IP2、內(nèi)部測試控制模塊和IO控制模塊。本發(fā)明的有益效果是：1、本方案可以高效地對微控制器SOC內(nèi)部的集成IP進(jìn)行測試。在微控制器SOC出現(xiàn)失效的時候，也可以在測試模式下對內(nèi)部集成的IP進(jìn)行失效分析。2、本方案能夠改善微控制器SOC的測試效率，只需要增加極少的資源來實現(xiàn)內(nèi)建IO映射測試邏輯，幾乎不需要增加微控制器SOC的制造成本。