本發(fā)明公開了一種可持續(xù)利用多用探測卡，包括：基座、對準(zhǔn)卡、針托架、緩沖框、緩沖墊和固定卡；對準(zhǔn)卡套設(shè)于芯片的外部并能夠?qū)⑿酒潭ㄓ诨会樛屑苌显O(shè)置有測試針，測試針的一端位于芯片的頂部且緩沖框覆蓋于對準(zhǔn)卡的頂部以使得測試針、對準(zhǔn)卡相接觸，測試針的另一端通過連接孔固定于基座上；緩沖框的兩側(cè)分布有緩沖墊，固定卡位于緩沖墊的頂部以使得緩沖墊固定于基座的頂部。該可持續(xù)利用多用探測卡能夠重復(fù)地對芯片進(jìn)行失效分析，同時(shí)成本低。