本發(fā)明公開了一種基于自振蕩回路的電路老化測試方法，其特征是：根據(jù)靜態(tài)時序分析和路徑間相關(guān)性，選取待測電路中的老化特征通路集合T；保持老化特征通路集合T中各條待測路徑上具有奇數(shù)次邏輯非，形成自振蕩的回路；采用固定型故障的測試生成方法，生成測試向量，激發(fā)自振蕩回路，產(chǎn)生測試電平信號；通過計數(shù)器采樣自振蕩回路，獲取電路老化特征值，度量待測電路老化程度。本發(fā)明可以以較低的功耗精確度量電路的老化程度，為電路老化失效防護(hù)提供準(zhǔn)確的依據(jù)。