本實(shí)用新型公開了一種集成電路開短路測(cè)試系統(tǒng),包括電源模塊、測(cè)試模塊、統(tǒng)計(jì)模塊、控制模塊和顯示模塊;所述電源模塊連接集成電路芯片,所述測(cè)試模塊的受控端連接所述控制模塊,測(cè)試模塊的測(cè)量端連接所述集成電路芯片,測(cè)試模塊的輸出端連接所述統(tǒng)計(jì)模塊,所述統(tǒng)計(jì)模塊連接所述顯示模塊。本實(shí)用新型可在顯示模塊上詳細(xì)顯示出集成電路的異常信息,開路或短路是哪個(gè)引腳,并統(tǒng)計(jì)該引腳開路或短路的次數(shù),方便及時(shí)了解集成電路的不良情況并為集成電路的失效分析提供必要的依據(jù)。