本申請涉及功能安全系統(tǒng)的測試技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種待測設(shè)備的安全測試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)，其中，方法包括：獲取待測設(shè)備的測試配置數(shù)據(jù)，并根據(jù)測試配置數(shù)據(jù)提取多個故障模擬數(shù)據(jù)；將多個故障模擬數(shù)據(jù)按照預(yù)設(shè)次序發(fā)送至待測設(shè)備，并采集待測設(shè)備運(yùn)行每個故障模擬數(shù)據(jù)時生成的故障運(yùn)行數(shù)據(jù)；對比故障運(yùn)行數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)的期望數(shù)據(jù)，得到對比結(jié)果，并根據(jù)對比結(jié)果生成待測設(shè)備的測試報(bào)告。由此，通過直接對待測硬件電路板進(jìn)行故障注入，解決了相關(guān)技術(shù)不能進(jìn)行控制器內(nèi)部硬件失效測試，以及虛擬測試平臺的測試準(zhǔn)確性問題，可以對控制器硬件電路設(shè)計(jì)、控制器軟件設(shè)計(jì)的功能安全有效性進(jìn)行測試驗(yàn)證。