本發(fā)明涉及芯片測試領(lǐng)域，提供一種用于經(jīng)時(shí)擊穿測試的探針卡以及經(jīng)時(shí)擊穿測試方法。所述用于經(jīng)時(shí)擊穿測試的探針卡包括：印制電路板以及設(shè)置于所述印制電路板的探針，所述印制電路板設(shè)有用于輸入經(jīng)時(shí)擊穿測試信號的輸入端，還包括限流元件，所述探針的第一端通過所述限流元件連接所述印制電路板的輸入端，所述探針的第二端用于輸出所述經(jīng)時(shí)擊穿測試信號。本發(fā)明通過限流元件吸收器件柵氧化層被擊穿時(shí)的瞬間大電流，防止器件內(nèi)部的其它結(jié)構(gòu)被損壞(擊穿)，這種情況下器件處于早期損壞，容易確定早期損壞故障點(diǎn)的位置，有助于確定可靠性失效的根本原因。