本發(fā)明公開了一種基于柵電壓變化的IGBT健康監(jiān)測(cè)方法，其包括以下步驟：S1、建立老化特征參數(shù)數(shù)據(jù)庫，并確定失效閾值電壓；S2、獲取目標(biāo)IGBT的工作條件，并實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)目標(biāo)IGBT柵極電壓；S3、提取目標(biāo)IGBT開啟時(shí)柵極電壓第四階段的上升電壓；S4、根據(jù)目標(biāo)IGBT的工作條件將第四階段上升電壓與數(shù)據(jù)庫進(jìn)行比對(duì)，判斷第四階段上升電壓是否超過失效閾值電壓，若是則判定目標(biāo)IGBT失效，否則判定目標(biāo)IGBT有效，完成IGBT健康監(jiān)測(cè)。本發(fā)明參數(shù)檢測(cè)在器件柵極驅(qū)動(dòng)電路中實(shí)施，避免了電力電子系統(tǒng)中的高功率部分，極大降低了監(jiān)測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)難度，隔離簡(jiǎn)單，且在監(jiān)測(cè)過程中，不影響IGBT器件的正常工作。