本發(fā)明涉及一種微腐蝕服役環(huán)境下純銀觸點(diǎn)材料可靠性的預(yù)測(cè)方法,該方法步驟如下:通過現(xiàn)場(chǎng)暴露試驗(yàn),確定純銀觸點(diǎn)材料樣品腐蝕產(chǎn)物膜厚與腐蝕時(shí)間和靜態(tài)接觸電阻之間的關(guān)系,根據(jù)該關(guān)系預(yù)測(cè)純銀觸點(diǎn)材料失效現(xiàn)象的出現(xiàn)時(shí)間。本發(fā)明采用腐蝕產(chǎn)物膜厚作為指標(biāo)能靈敏反應(yīng)樣品不同程度的腐蝕狀況,只需通過較短周期的現(xiàn)場(chǎng)暴露試驗(yàn)確定腐蝕產(chǎn)物膜厚與腐蝕時(shí)間和靜態(tài)接觸電阻之間的關(guān)系,即可根據(jù)達(dá)到失效狀態(tài)時(shí)的電阻增量,準(zhǔn)確預(yù)測(cè)出現(xiàn)失效現(xiàn)象的暴露時(shí)間,本發(fā)明方法解決了現(xiàn)有方法周期長(zhǎng)、準(zhǔn)確率不高的問題。
聲明:
“微腐蝕服役環(huán)境下純銀觸點(diǎn)材料可靠性的預(yù)測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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