本發(fā)明的預(yù)測晶體管故障的方法,屬于晶體管損傷預(yù)測方法的技術(shù)領(lǐng)域,解決預(yù)測晶體管因熱疲勞而失效的技術(shù)問題。其包括獲取晶體管的導(dǎo)通壓降數(shù)據(jù)和結(jié)溫數(shù)據(jù),并確定所述結(jié)溫數(shù)據(jù)和所述導(dǎo)通壓降數(shù)據(jù)的第一對應(yīng)關(guān)系;根據(jù)所述第一對應(yīng)關(guān)系確定晶體管的剩余使用壽命;獲取所述晶體管的已工作時間數(shù)據(jù),并與所述剩余使用壽命數(shù)據(jù)的第二對應(yīng)關(guān)系;根據(jù)所述第二對應(yīng)關(guān)系確定晶體管的經(jīng)濟壽命數(shù)據(jù),判斷所述經(jīng)濟壽命數(shù)據(jù)是否大于晶體管在臨界飽和狀態(tài)下所對應(yīng)經(jīng)濟壽命數(shù)據(jù),如果是,則判定所述經(jīng)濟壽命數(shù)據(jù)所對應(yīng)的結(jié)溫,為晶體管熱疲勞失效的溫度點。本發(fā)明用以完晶體管的使用功能,滿足人們能對晶體管熱損傷預(yù)估的要求。
聲明:
“預(yù)測晶體管故障的方法及其系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)