本發(fā)明公開(kāi)了一種智能電表液晶器件的測(cè)試方法，屬于智能電表技術(shù)，該方法包括：對(duì)智能電表樣品進(jìn)行隨機(jī)抽樣，確定智能電表液晶器件可靠性的測(cè)試項(xiàng)目，確定測(cè)試剖面以及失效判據(jù)，并確定測(cè)試參數(shù)及測(cè)試方法后對(duì)所述智能電表液晶器件進(jìn)行測(cè)試，對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行處理，記錄液晶器件的故障模式頻數(shù)比，進(jìn)行可靠性試驗(yàn)，確定故障特征量。該方法作為一種新型的測(cè)試技術(shù)，效率高、成本低、可以從根本上提高產(chǎn)品固有可靠性，快速獲得產(chǎn)品早期高可靠性，從而大大縮短產(chǎn)品研制時(shí)間，加快新產(chǎn)品投放市場(chǎng)，提高市場(chǎng)占有率。