本實用新型揭示了一種規(guī)?；酒詣訙y試裝置，具有營造芯片運(yùn)行環(huán)境的控溫箱及穿接于控溫箱內(nèi)外、連接電源與測試板的供電線路，其特征在于：該裝置設(shè)有在控溫箱內(nèi)與所有待測芯片相連的總線，且總線通過線纜連至控溫箱外的上位機(jī)，形成上位機(jī)與各待測芯片的通信，所有待測芯片的狀態(tài)實時記錄于上位機(jī)的測試日志中。應(yīng)用本實用新型該裝置，實現(xiàn)了節(jié)省人工，把芯片失效時間精確記錄到秒級，而且通過供電線路的開關(guān)控制和測試板級聯(lián)，分別提高了測試作業(yè)的安全性和規(guī)模擴(kuò)展性。