本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N電極材料放電性能測(cè)試裝置及方法。通過電極材料放電性能測(cè)試裝置可以精確控制微米滑動(dòng)機(jī)構(gòu)的滑動(dòng)時(shí)間、滑動(dòng)速度以及滑動(dòng)位移,實(shí)現(xiàn)放電距離的精確控制,控制進(jìn)度可達(dá)1μm。通過電極材料放電性能測(cè)試裝置實(shí)現(xiàn)恒流電源正極連接線與電極材料樣品之間的距離得到精確控制,控制精度可達(dá)到1μm。通過電極材料放電性能測(cè)試裝置可以實(shí)現(xiàn)集中控制,可根據(jù)試驗(yàn)需要編程,使直流電源、微米滑動(dòng)機(jī)構(gòu)、數(shù)據(jù)采集聯(lián)動(dòng),實(shí)現(xiàn)電流、放電距離、放電時(shí)間、滑動(dòng)速度、電量等放電參數(shù)的控制,可以較全面高效地表征電極材料性能,同時(shí)可以更好的表征電極材料的失效機(jī)制,有利于電極材料研究及開發(fā)。
聲明:
“電極材料放電性能測(cè)試裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)