本發(fā)明提供了電性地址與物理地址對(duì)應(yīng)關(guān)系的調(diào)整方法,以在根據(jù)該對(duì)應(yīng)關(guān)系,通過(guò)位圖系統(tǒng)輸出的損壞邏輯die中不合格cell的電性地址,得到該不合格cell的正確物理地址,進(jìn)而提高失效性分析的成功率。該方法包括:破壞die中預(yù)定物理地址的cell;位圖系統(tǒng)檢測(cè)該die,并輸出該破壞的cell的電性地址;基于已有電性地址與物理地址的對(duì)應(yīng)關(guān)系,通過(guò)該電性地址獲得該破壞cell的物理地址;比較出獲得的該物理地址與預(yù)定物理地址的偏差;以及根據(jù)該偏差調(diào)整所述對(duì)應(yīng)關(guān)系。