本實(shí)用新型涉及表面波探傷,尤其涉及一種表面波探頭。一種雙向雙晶表面波探頭,它包括殼體和一個(gè)晶片,所述殼體內(nèi)有一個(gè)斜楔,殼體內(nèi)其它空間充有吸音材料,所述晶片設(shè)于斜楔的斜面上,該晶片上還設(shè)有阻尼塊,晶片以導(dǎo)線連接殼體上所設(shè)的電纜插頭的內(nèi)芯,所述探頭還包括:第二晶片,它設(shè)于和斜楔并列相向設(shè)置的第二斜楔的斜面上;所述第二晶片其上同樣設(shè)有阻尼塊,聲波隔離塊,它設(shè)于所述兩個(gè)斜楔之間,并和斜楔粘結(jié)連接成一體;第二電纜插頭,它和電纜插頭并列設(shè)置,所述第二晶片以導(dǎo)線連接第二電纜插頭的內(nèi)芯。本實(shí)用新型在一個(gè)探頭內(nèi)設(shè)計(jì)兩個(gè)方向的晶片,在探傷檢測時(shí),同時(shí)檢測工件兩個(gè)方向的表面質(zhì)量,減少探傷工作量,避免探頭快速失效。