本申請(qǐng)公開了一種翻新集成電路的識(shí)別裝置及其識(shí)別方法，識(shí)別裝置裝配于集成電路上，識(shí)別裝置包括：控制模塊、運(yùn)行模塊、基準(zhǔn)模塊和頻率比較模組；控制模塊，用于控制運(yùn)行模塊、基準(zhǔn)模塊和頻率比較模組工作；運(yùn)行模塊的工作模式為持續(xù)工作，且運(yùn)行模塊和集成電路中的主電路同步工作；基準(zhǔn)模塊的工作模式為間歇工作，且基準(zhǔn)模塊和運(yùn)行模塊的電路結(jié)構(gòu)相同；頻率比較模組，用于比較第一工作頻率和第二工作頻率，得到集成電路是否為翻新集成電路的識(shí)別結(jié)果，第一工作頻率為基準(zhǔn)模塊對(duì)應(yīng)的工作頻率，第二工作頻率為運(yùn)行模塊對(duì)應(yīng)的工作頻率。解決了現(xiàn)有翻新集成電路的識(shí)別采用失效分析的方法，在一定程度上造成了資源浪費(fèi)的技術(shù)問題。