在OTP存儲(chǔ)器中，反熔絲存儲(chǔ)單元內(nèi)寄生電容的存在將對(duì)OTP存儲(chǔ)器編程后的讀取閾值造成很大影響，嚴(yán)重時(shí)有可能無(wú)法正確讀取編程數(shù)據(jù)，導(dǎo)致讀機(jī)制的失效。本發(fā)明在介紹OTP存儲(chǔ)器的整體讀取電路以及靈敏放大器功能的基礎(chǔ)上，通過(guò)理論分析以及仿真闡述了反熔絲存儲(chǔ)單元內(nèi)寄生電容對(duì)OTP存儲(chǔ)器讀取閾值的影響，并提出了解決方案，從而消除了存儲(chǔ)單元內(nèi)寄生電容對(duì)OTP存儲(chǔ)器電路讀取閾值的影響，最大程度保證了存儲(chǔ)器的讀取閾值，這可以最大程度的保證OTP存儲(chǔ)器的讀取閾值，提高OTP存儲(chǔ)器用戶的編程效率，提高芯片成品率。