本發(fā)明公開了一種在役電子系統(tǒng)可靠性評估方法，包括以下步驟：步驟1，給電子系統(tǒng)供電，獲取電子系統(tǒng)溫度分布圖像序列；步驟2，提取元器件子塊區(qū)域；步驟3，獲得各元器件的溫度值隨時間變化的序列數(shù)據(jù)；步驟4，建立維納過程模型，得到電子系統(tǒng)的可靠度函數(shù)；步驟5，以各元器件工作溫度連續(xù)兩次超過安全閾值的時間間隔為隨機變量，根據(jù)極大似然估計法確定漂移參數(shù)與擴散系數(shù)的先驗估計值；步驟6，采用貝葉斯方法逐步更新模型參數(shù)，計算得到漂移系數(shù)與擴散系數(shù)的后驗估計值，從而估算電子系統(tǒng)在不同退化程度下的可靠度。本發(fā)明采用兩次越過閾值的時間間隔來進行失效分析和可靠性評估，具有良好的魯棒性和準確性。