本實(shí)用新型公開了一種微波器件動(dòng)態(tài)老化試驗(yàn)系統(tǒng)，它包括老化試驗(yàn)板（6），微波信號(hào)源（2）與程控電源（4）通過背板連接器（7）與老化試驗(yàn)板（6）輸入端連接，老化試驗(yàn)板（6）輸出端通過背板連接器（7）與微波信號(hào)分析儀（3）連接；解決了現(xiàn)有技術(shù)的微波器件老化試驗(yàn)采用直流偏置的方式進(jìn)行，由于這是一種靜態(tài)老化方式，存在的器件實(shí)際工作狀態(tài)與試驗(yàn)狀態(tài)相差甚遠(yuǎn)，達(dá)不到剔除早期失效器件等技術(shù)問題。