本發(fā)明屬于測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，涉及一種絕緣柵雙極型晶體管性能退化試驗(yàn)方法。該方法以絕緣柵雙極型晶體管為對(duì)象，利用程控脈沖發(fā)生器、程控電子開(kāi)關(guān)、程控?cái)?shù)字萬(wàn)用表、功率電阻、工作電阻和直流電源，通過(guò)短路電流沖擊，得到不同短路電流值下的絕緣柵雙極型晶體管導(dǎo)通飽和電壓隨短路電流沖擊次數(shù)的偏移值，以此作為絕緣柵雙極型晶體管的性能退化數(shù)據(jù)。該方法可以在較短的時(shí)間里獲得準(zhǔn)確的絕緣柵雙極型晶體管由于短路電流所造成的性能退化數(shù)據(jù)，利用此數(shù)據(jù)可以準(zhǔn)確預(yù)測(cè)絕緣柵雙極型晶體管在使用過(guò)程中的失效時(shí)間，以便在絕緣柵雙極型晶體管失效前及時(shí)采取措施防止由于絕緣柵雙極型晶體管失效而產(chǎn)生的嚴(yán)重故障，進(jìn)而減少經(jīng)濟(jì)損失。