本發(fā)明公開(kāi)了一種加速度傳感器芯片生產(chǎn)校驗(yàn)補(bǔ)償方法，加速度傳感器芯片生產(chǎn)校驗(yàn)補(bǔ)償方法旨在用于加速度傳感器芯片批量生產(chǎn)測(cè)試，加速度傳感器芯片生產(chǎn)校驗(yàn)補(bǔ)償方法是用校準(zhǔn)過(guò)的成品加速度傳感器芯片做參考，成品加速度傳感器芯片和待測(cè)成品矩陣排列放在特定旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)臺(tái)以特定的狀態(tài)運(yùn)行環(huán)境下，通過(guò)采樣對(duì)加速度傳感器芯片的ADC輸出，并與參考加速度傳感器芯片的輸出作對(duì)比和運(yùn)算，將要校準(zhǔn)的參數(shù)寫(xiě)入待測(cè)加速度傳感器芯片內(nèi)的存儲(chǔ)區(qū)，再讀取加速度傳感器芯片的ADC輸出，再對(duì)比判斷該待測(cè)成品是否校準(zhǔn)成功，如果校準(zhǔn)不成功，則當(dāng)該顆待測(cè)成品為失效電路。測(cè)試設(shè)備根據(jù)該方法一次能夠并行測(cè)試多顆電路。