本發(fā)明公開了一種基于事務(wù)類型激勵的驗(yàn)證方法，包括：獲取目標(biāo)特征向量；利用預(yù)先構(gòu)造的轉(zhuǎn)換工具將所述目標(biāo)特征向量轉(zhuǎn)換成對應(yīng)的目標(biāo)事務(wù)類型激勵；利用所述目標(biāo)事務(wù)類型激勵對待測芯片進(jìn)行仿真驗(yàn)證。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本申請中僅需獲取目標(biāo)特征向量，即可利用轉(zhuǎn)換工具將目標(biāo)特征向量轉(zhuǎn)換成對應(yīng)的事務(wù)類型激勵，進(jìn)而完成待測芯片的驗(yàn)證，而無需由人工編寫事務(wù)類型激勵，從而大大降低了人工工作的復(fù)雜度和工作量，且由于特征向量較事務(wù)類型激勵而言，構(gòu)造工作非常簡單，因此，大大降低了出錯率，進(jìn)一步降低了驗(yàn)證失效的幾率。