權(quán)利要求書: 1.一種微粗糙電解銅箔,其特征在于,所述微粗糙電解銅箔包括一微粗糙表面,所述微粗糙表面具有多個(gè)凸峰、多個(gè)型凹槽以及多個(gè)微結(jié)晶簇,兩個(gè)相鄰的所述凸峰界定出一個(gè)型凹槽,所述型凹槽的平均深度小于1微米,所述微結(jié)晶簇位于所述凸峰頂部,其中每一個(gè)所述微結(jié)晶簇由多個(gè)微結(jié)晶堆疊構(gòu)成,所述微結(jié)晶的平均直徑小于0.5微米,所述微結(jié)晶簇的平均高度小于1.5微米;
其中,所述微粗糙電解銅箔的微粗糙表面的Rlr值低于1.06。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微粗糙電解銅箔,其特征在于,每一個(gè)所述微結(jié)晶簇的平均高度小于1.3微米。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的微粗糙電解銅箔,其特征在于,每一個(gè)所述微結(jié)晶簇沿其自身高度方向的所述微結(jié)晶平均堆疊數(shù)量是15個(gè)以下;所述微結(jié)晶簇的平均最大寬度小于5微米;部分的所述微結(jié)晶簇形成有分岔結(jié)構(gòu)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的微粗糙電解銅箔,其特征在于,所述微粗糙電解銅箔的微粗糙表面的Rlr值低于1.055。
5.一種銅箔基板,其特征在于,所述銅箔基板包括:一基材;以及
一微粗糙電解銅箔,其包括一貼附在所述基材的微粗糙表面,所述微粗糙表面形成有多個(gè)凸峰、多個(gè)型凹槽以及多個(gè)微結(jié)晶簇,兩個(gè)相鄰的所述凸峰界定出一個(gè)型凹槽,所述型凹槽的平均深度小于1微米,所述微結(jié)晶簇位于所述凸峰頂部,其中每一個(gè)所述微結(jié)晶簇由多個(gè)微結(jié)晶堆疊構(gòu)成,所述微結(jié)晶的平均直徑小于0.5微米,所述微結(jié)晶簇的平均高度小于1.5微米;
其中,所述銅箔基板于20GHz的介入損失介于0至-0.635db/in;
其中,所述微粗糙電解銅箔與所述基材間的剝離強(qiáng)度大于3lb/in。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的銅箔基板,其特征在于,所述銅箔基板于30GHz的介入損失介于0至-0.935db/in。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的銅箔基板,其特征在于,所述銅箔基板于8GHz的介入損失介于
0至-0.31db/in,所述銅箔基板于12.89GHz的介入損失介于0至-0.43db/in,所述銅箔基板于16GHz的介入損失介于0至-0.53db/in;所述微粗糙電解銅箔與所述基材之間的剝離強(qiáng)度大于3.5lb/in。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的銅箔基板,其特征在于,所述銅箔基板于12.89GHz的介入損失介于0至-0.42db/in,所述銅箔基
聲明:
“微粗糙電解銅箔及銅箔基板” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)