本發(fā)明公開(kāi)了一種薄膜電容及其電流電路監(jiān)測(cè)系統(tǒng)和壽命預(yù)測(cè)方法，包括電容本體，所述電容本體的底部固定安裝有保護(hù)環(huán)，所述保護(hù)環(huán)的內(nèi)部套接有引腳，所述引腳遠(yuǎn)離電容本體的一端活動(dòng)套接有旋轉(zhuǎn)接線頭，所述電容本體包括電容芯子，所述電容芯子的兩側(cè)均固定安裝有噴金層，所述電容芯子的外側(cè)饒接有纏繞層。通過(guò)設(shè)置的旋轉(zhuǎn)連接頭可以方便薄膜電容與外界設(shè)備相連接，不通過(guò)引腳直接與外界設(shè)備連接，一方面可以對(duì)薄膜電容的引腳進(jìn)行保護(hù)，防止其在與外界設(shè)備相連接時(shí)發(fā)生折斷，影響薄膜電容的使用，另一方面旋轉(zhuǎn)連接頭可以在引腳的外側(cè)進(jìn)行轉(zhuǎn)動(dòng)，方便改變外接環(huán)的開(kāi)口朝向，以便應(yīng)對(duì)各種連接情況，提升薄膜電容的適用性。