本發(fā)明提供了一種紅外熱成像快速無損檢測薄膜厚度均勻性的方法。該方法利用加熱裝置提供均勻、穩(wěn)定的熱通量加熱待測薄膜，加熱后的薄膜向外發(fā)出紅外輻射，紅外攝像裝置接收輻射信號，并將輻射信號轉(zhuǎn)變成電信號，經(jīng)后處理裝置處理后，將待測薄膜表面的溫度分布圖顯示出來。在某一特定時刻，待測薄膜表面的溫度變化的百分比與厚度變化的百分比相等。待測薄膜表面溫度無差異就說明薄膜厚度均勻。該方法可以快速、無損檢測薄膜厚度均勻性，且無視待測薄膜是否導(dǎo)電、是否透明?？捎糜阡囯姵貥O片、塑料袋的密封檢測等。