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基于反射型太赫茲時(shí)域光譜的金屬表面粗糙度檢測(cè)裝置及方法

1110 編輯：管理員來(lái)源：中冶有色網(wǎng)

2023-03-19 08:58:04

本發(fā)明公開了一種基于反射型太赫茲時(shí)域光譜的金屬表面粗糙度檢測(cè)裝置，包括：飛秒激光器（1）、分束器（2）、光學(xué)延遲線（3）、反射鏡（4）、第一光纖耦合器（5）、第一光纖（6-1）、第二光纖（6-2）、太赫茲發(fā)射器（7）、樣品臺(tái)（8）、太赫茲探測(cè)器（9）、第二光纖耦合器（10）和計(jì)算機(jī)（11）；同時(shí)還公開了一種利用本裝置進(jìn)行的檢測(cè)方法：首先利用裝置獲取某種材料的標(biāo)準(zhǔn)試件的太赫茲反射光譜，建立粗糙度檢測(cè)模型，然后測(cè)量待測(cè)試件的太赫茲反射光譜，并應(yīng)用建立的粗糙度檢測(cè)模型獲取粗糙度；本發(fā)明利用太赫茲波原理能夠?qū)у儗拥慕饘俚谋砻娲植诙炔町?、腐蝕和表面損傷等進(jìn)行準(zhǔn)確檢測(cè)，具有無(wú)損、非接觸、分析速度快等特點(diǎn)。

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“基于反射型太赫茲時(shí)域光譜的金屬表面粗糙度檢測(cè)裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究，如用于商業(yè)用途，請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。

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