一種用于光學(xué)元件非球面微結(jié)構(gòu)的同步檢測方法,包括從一激光器出射一束激光并且經(jīng)過一第一光闌后分成兩束,其中一束入射到聚焦鏡上后入射到積分球內(nèi)的待測物體的表面上,所述積分球上安裝有光電接收設(shè)備接收其散射光,并且在該入射到待測物體的光束的反射方向設(shè)置反射光接收器,其中反射的一束光經(jīng)光吸收裝置吸收并且進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換后進(jìn)入計算機作為參考光束,利用上述設(shè)備測得待測物體的散射輻射Rd,以及反射輻射Rs,然后計算得出基于尖銳壓頭印壓的亞表面裂紋深度SSD和基于微小球形壓頭印壓的裂紋深度SSD’。該方法不但所要求的設(shè)備結(jié)構(gòu)簡單、檢測速度快,檢測準(zhǔn)確,可以達(dá)到納米量級的表面微結(jié)構(gòu)的檢測,成本較低、對表面無損害、測量精度較高。
聲明:
“用于光學(xué)元件非球面微結(jié)構(gòu)的同步檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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