本發(fā)明公開了一種半導(dǎo)體三極管生產(chǎn)用測試裝置，涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域，包括主體機(jī)構(gòu)、壓力測試機(jī)構(gòu)、低溫測試機(jī)構(gòu)以及高溫測試機(jī)構(gòu)。在壓力測試機(jī)構(gòu)中，電缸通過其活塞桿的移動，驅(qū)動壓板向下壓動，且壓于三極管，可以測試封裝后的三極管的抗壓力性能；同時，在凸輪的運(yùn)動下，能夠驅(qū)動第一振動板上下運(yùn)動，第一振動板的上下運(yùn)動帶動第一彈簧進(jìn)行振動，第一彈簧振動下帶動第二振動板振動，從而可以模擬封裝后的三極管在不斷振動的條件下，內(nèi)部器件有無損壞；通過高溫測試機(jī)構(gòu)，可以測試三極管在高溫狀態(tài)下的耐受力；通過低溫測試機(jī)構(gòu)，可以測試三極管在低溫狀態(tài)下的耐受力。