本發(fā)明提供一種對(duì)Flash器件失效定位的方法，提供多個(gè)存儲(chǔ)單元；對(duì)多個(gè)存儲(chǔ)單元分別在同一狀態(tài)下進(jìn)行電流量測，得到所有存儲(chǔ)單元的電流值；按多個(gè)存儲(chǔ)單元所在的位置與各存儲(chǔ)單元對(duì)應(yīng)的電流值繪制為電流隨存儲(chǔ)單元位置分布的趨勢圖；根據(jù)趨勢圖找出失效的存儲(chǔ)單元。本發(fā)明的方法根據(jù)bit cell電流分布趨勢來對(duì)Flash進(jìn)行失效定位，制成圖表，找到趨勢上電流表現(xiàn)最差的bit，有利于對(duì)后續(xù)的失效分析預(yù)測做出判斷。